科研进展

RFID综合测试平台在杭州中心建成投入使用

  

上海微系统所中科院杭州射频识别技术研发中心建设的RFID综合测试平台于2011年11月在杭州正式建成投入使用,该平台由天线测试系统、RFID标签\阅读器测试与射频系统测试三大部分组成,可满足RFID硬件开发的各项测试需求。作为目前浙江省唯一的RFID测试平台,也是华东地区规模最大、功能最齐全的RFID测试平台,它的建成具有重要意义。

射频识别技术(RFID)是物联网的关键技术之一,同时具有良好的产业基础和广阔的市场前景。研究显示,2011年全球RFID市场规模可达148亿美元,未来五年将继续保持高速增长,而中国将成为全球最大的RFID市场。由于RFID技术应用的扩展,相关RFID企业必然有扩展产品和技术领域的需求,RFID综合测试平台主要解决HF、UHF和RF频段的RFID产品在研发和应用中的测试技术问题,为相关企业的研发和生产服务,带动区域RFID产业的提升,有利于提高杭州在全国物联网行业的标杆作用,引领物联网相关先进测试技术发展。

RFID综合测试平台具有鲜明的特色和优势:
天线测试平台引进法国近场球面扫描系统,频率覆盖400 MHz-6 GHz。可满足:天线增益、波束宽度、旁瓣幅度、天线效率以及一维、二维和三维辐射方向图和任意极化方式的方向图,同时满足TRP,TIS,EIRP,EIS等测试指标。
射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统主要基于NI-VISN-100 RFID/NFC综测仪,能够精确、快速的对标签和阅读器进行测试。支持的RFID测试协议:ISO18000-6B和ISO18000-6C/EPC UHF Class1 Gen2。具有标签与读卡器一致性测试、标签与读卡器性能测试、标签与读卡器的互操作性测试的能力。

射频测试平台由德国Rohde&Schwarz公司的FSVR7实时频谱分析仪、SMBV100A矢量信号源和ZVB8矢量网络分析仪仪器组成,可解决射频元件与模块的测试问题,提供完整的射频参数测试服务。

结合实际需求,杭州中心将积极创新,自主研发,不断提升RFID及相关测试技术水平,加强企业合作,为推动杭州物联网产业的发展做出应有贡献,并积极为我所”十二.五”战略目标服务,推动宽带无线传感网技术发展。

天线测试平台

射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统1

射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统2