超声波扫描显微镜

设备型号
SAM 402
设备简介
用于无损检测设备,非常适用于空腔元器件、异质键合界面,封装器件等样品内部分层、空洞和裂缝等表征检测。
技术指标

1)分辨率1.0nm@15kV,1.7nm@1kV,4.0nm@1kV;2)放大倍数12~900000;3)加速电压:01~20KV 

1)最大测试样品尺寸430mmx430mm;2)最小R寸1μmx1μm;3)X/Y轴定位光栅精度≤0.1μm;4)机械重复定位精度±0.1μm。



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    所级中心拟通过统筹规划、优化资源配置,加强技术支撑系统建设,建立装备一流、管理一流、技术服务一流的所级公共技术服务中心,实现仪器设备的高效共享利用。 沪ICP备05005483号-1