表面轮廓仪

设备型号
AMBIOS
设备简介
Z向分辨率0.1nm,XY量程100nm

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    所级中心拟通过统筹规划、优化资源配置,加强技术支撑系统建设,建立装备一流、管理一流、技术服务一流的所级公共技术服务中心,实现仪器设备的高效共享利用。 沪ICP备05005483号-1