邮箱登陆 | 网站地图 | 联系我们 | 所长信箱 | English | 中国科学院 | ARP | OA   
      首页 所况简介 新闻中心 科技成果 交流合作 队伍建设 人才教育 党建与文化 科学传播 信息公开
  您现在的位置:首页>新闻中心>新闻快递
中科院杭州射频识别中心顺利通过CNAS/DILAC现场监督评审
2014年11月13日    三室

  1031日和111日两天,中国合格评定国家认可委员会(CNAS)和国防科技工业实验室认可委员会(DILAC)评审专家对中科院杭州射频识别技术研发中心实验室进行了监督评审,孙晓玮主任代表受审方介绍了单位基本情况。 

  评审专家依据实验室认可准则及应用说明要求,通过现场提问、资料调阅、核查仪器设备配置等方式,对中科院杭州射频识别技术研发中心实验室管理体系、工作程序、人员、设备、质量控制、质量监督和结果报告等要素进行了评审。评审专家认为,实验室建立的管理体系文件完整,能够满足质量方针和质量目标的需要,能够适应实验室工作类型和工作量的需要,能够满足射频中心验室认可的特殊要求。评审组对中科院杭州射频识别技术研发中心实验室三大项23个小项测试能力进行了验证并对读写器测试能力进行了现场考核,结合现场评审过程发现的问题,提出了具体整改要求。中科院杭州射频识别技术研发中心实验室将根据专家评审组的建议,努力改善实验室测试流程。通过这次一年一度的国家CNAS/DILAC实验室现场监督评审,对杭州中心的测试系统的完整性、可靠性、准确性有很大的促进作用,有效保障了国家认证实验室完成用户的RFID等相关产品测试认证工作。 

© 中国科学院上海微系统与信息技术研究所版权所有 沪ICP备05005483号
上海市长宁路865号 电话:021-62511070 邮编:200050