2011年7月25日至29日，2011 IEEE NSREC会议在美国内华达州拉斯维加斯市召开。微系统所邹世昌院士带领所内SOI辐射效应研究小组的部分成员参加了此次会议并提交了会议论文。

一年一度的IEEE NSREC（Nuclear and Space Radiation Effects Conference）会议是原子核和空间辐射效应研究领域内最为重要的国际会议。与会专家来自全球著名的组织、大学、研究所和公司：美国宇航局NASA、喷气推进实验室JPL、海军实验室NRL、Sandia国家实验室、Vanderbilt大学、Honeywell公司、波音公司、德州仪器、IBM、Xilinx、ARM等。

大会主要内容包括有关辐射效应的短课程培训、有关辐射效应最新研究进展的专题技术报告以及工业展览会等。短课程培训主要包括航天器环境的交互作用、CMOS和双极器件的总剂量和位移损伤效应、数字电路和线性集成电路的单粒子效应、在轨异常现象四个部分。专题技术报告由口头报告和海报展示部分构成，分为单粒子效应、器件和集成电路的辐射效应、加固保证、设计加固等八大部分，每部分由数个专业报告组成。工业展会主要展示全球领先的供应商所生产的辐射加固产品、相关的材料以及能够提供的服务，为产品供应商、技术工程师和相关经理人提供了一个讨论相关需求和合作方案的平台。

通过此次参会，微系统所的辐射效应研究人员进一步了解了辐射效应研究领域的国际热点、重点问题，拓宽了研究思路，深刻理解了产业公司、研究组织和大学相结合所带来的巨大益处，进一步明确了未来的研究方向和发展目标。

会议合影

会议期间，国外教授友人获悉邹院士刚过八十大寿，还特意举办了小型的庆祝会以表祝贺。

庆祝会合影