5月17日上海市科委主持了中科院上海微系统所承担的《毫米波单片集成探测器多功能芯片技术研究》验收会，验收专家组听取并审阅了项目组的工作总结报告、研制总结报告、用户报告、工艺规范报告、第三方测试报告，验收专家一致同意该项目通过验收，并对项目组的出色工作给予了高度评价。该项目开发的芯片和组件已成功推广应用，具有很好的市场应用前景。