三维原子探针
LEAP 5000 XR
设备简介
三维原子探针采用了局部电极原子探针断层分析技术,是一种高性能原子级空间分辨率的测量和分析设备。可对各种单质或化合物材料的样品表面、界面等复杂结构通过对不同元素原子逐个进行分析,重构出纳米空间内不同元素原子的三维分布图形,并给出精准的元素空间含量分析。
设备主要功能、技术指标和样品要求
三维原子探针设备可对材料进行可视化分析和定量分析。可视化分析包括:观察材料内部晶界、相界、结构界面及位错和缺陷等不同位置形貌。定量分析包括:材料内部组分确定,界面或晶界处的沉淀和偏聚的数量、密度和体积计算等。
视场范围≧200 nm;采集速度>30000 ions/s;分析体积约5000000 nm3;质量分辨率>FWHM
材料结构致密,分析区域内无孔洞;可制成100nm×100 nm×300nm形状针尖;非绝缘材料
收费标准 |
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管理人员及联系方式
程杨名/021-62511070-8104 ymcheng@mail.sim.ac.cn
所属平台
信息功能材料微结构表征平台
存放位置
8号楼108房间