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工艺加工平台
测试封装平台
标题:
上海市集成光学技术研究中心测试实验室

1.  光波导自动对准系统

   •日本骏河精机株式会社

   •六轴步进马达自动驱动

   •最小步进可达0.05μm

   •变焦观察系统

   •独特接触感知传感器自动调整端面平行

   •可见光和红外CCD摄象机

   •专用波导和光纤阵列夹具

ES6200光波导自动对准系统,此系统包括日本骏河精机株式会社制造的两个六轴步进马达自动驱动光学调节平台、控制系统及自动调节控制软件,共12维调节自由度,最小步进可达0.05μm,角度调节精度为0.0032°。系统还包括变焦可见光CCD摄像机观察系统、专用波导和光纤阵列夹具、真空样品吸附、独特接触感知传感器自动调整端面平行,还配备红外CCD摄像机和防震光学平台。

 

 

2. EXFO DWDM测试系统

•用于AWG等DWDM器件的测试

•高波长精度±0.005nm

•波长重复性±0.001nm

•损耗测试范围0~75dB

•Mueller Matrix 偏振控制器

•ORL测试范围0~65dB

•测试速度≤25s (40 channel)

EXFO IQS-12004B DWDM测试系统,包括基于PC结构的多个测量模块如可调谐激光模块,其波长精度为±0.005nm;波长校准模块,可以对输出波长进行实时校准,使可调谐激光模块的波长重复性为±0.001nm;偏振控制模块,基于Mueller Matrix原理的偏振控制器可以实现集成光电器件偏振相关特性的测试;光电探测模块,损耗测试范围0~ 75dB,ORL测试范围0~ 65dB,测试速度≤25s (40 channel)。该系统用于AWG等DWDM光无源器件的测试。

 

 

3. 日本ANDO光谱分析仪

   •用于DWDM器件的测试

   •波长范围600~1750nm

   •±0.1nm的波长精度

   •70dB动态范围

   •扫描时间500ms

   •多种波长分辨率选择

   •最高波长分辨率0.015nm

ANDO光谱分析仪用于集成光电器件的测试,波长范围600~1750nm,波长精度±0.01nm,动态范围70dB,最高波长分辨率0.015nm,具有多种波长分辨率选择,整个波长范围扫描时间为500ms。

 

 

4. Tektronix TDS 3034B多通道数字示波器

   •4通道,带宽300MHz

   •WaveAlert波形异常检测功能

   •平均、包络、波形数学计算等信号处理功能

   •基于网络的远程控制功能

•   P6703B光电转换模块:响应波长1100~1600nm,转换效率1V/mW

Tektronix TDS 3034B多通道数字示波器,具有强大的信号处理功能,能对信号应用平均功能来移除不相关的噪音以改善测量精度,应用包络功能来捕获并显示最大信号变化,对波形进行加、减、乘、除等数学运算。所配P6703B光电转换模块,响应波长覆盖光通信波长范围,方便测试动态光器件的响应特性。

 

 

5. 集成光学模拟仿真软件

   •Optiwave BPM 4.0

   •Optiwave WDM Phasar 2.0

   •Optiwave FDTD 2.0

在集成光学器件的研究中,借助模拟仿真软件可以大大缩短设计周期和降低实验成本。Optiwave公司的BPM软件是基于Beam Propagation Method原理,可以分析波导的模式分布和模拟光场在各种光波导介质中的传输情况;WDM Phasar是基于Beam Propagation Method原理,针对AWG(阵列波导光栅)类器件的专门模拟软件;FDTD软件是基于Finite-Difference Time-Domain原理,可以模拟光场在波导中的反射、散射、衍射、偏振和非线性等现象。

 

   

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